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液體式冷熱衝擊試驗機
適合:電子晶片ICPCB、半導體陶磁及高分子材料之物理性變化試驗。
  說明
   
 
 

產品特色
 
 
    適合:電子晶片ICPCB、半導體陶磁及高分子材料之物理性變化試驗。
    高低溫液體槽內採用強迫攪拌對流方式。
    採用全自動上下左右位移機構移動試料籃至預熱、預冷槽,往返衝擊方式。
    熱煤油採用單一相同液體 GARDEN D02TS 於高低溫槽內,降低經常換液體之成本。
    採用原裝大型液晶LCD(320 x 240 Dots)中文/英文顯示溫度可程式微電腦控制器。
    本設備配合現場需要,可選擇水冷或氣冷之冷卻方式。
    冷熱沖擊機構移動時間為10秒內。
    追加配備:
溫度自動記錄器
測試液
 

技術規格
 
Model GTST-021S-65-L GTST-160S-65-L
Internal Dim. W x H x D (cm) Immersion in liquid bath by movement of a sample basket rack
External Dim. W x H x D (cm) 20 x 35 x 30 x 2 Bath 26 x 35 x 45 x 2 Bath
Temp. Rise Time (High Temp. Bath) Room Temperature to +150 Within 80 Minutes
Temp. Drop Time (Low Temp. Bath) Room Temperature to -65 Within 120 Minutes
Precool / Preheat Temp. Range -75.00 ~ 00.00 / +60.00 ~ +160.00
Shocking Temp. Range -65.00 ~ 00.00 / +60.00 ~ +150.00
Testing Time Within 5 min Within 5 min
Specimen Transfer Time Within 10 sec
(Time of transfer between hot and cold baths)
Resolution 0.01 / 1 min
Control Constancy ±0.2
Sample Basket Dim. W x H x D (cm) 12 x 15 x 12 18 x 25 x 35
Sample Weight IC 2 Kg IC 5 Kg
Controller CLCD-9800
Power Source AC 3ψ 220V / 380V , 60/50Hz