實現高精度測試的可靠規格&功能

　　

測試頻率10 μHz ∼ 15 MHz

從10 μHz 的低頻到15 MHz 實現全覆蓋。分辨率也提高到10 μHz 。支持電化學阻抗測試所需的超低頻。

測試速度0.5 ms/point

掃描速度最快0.5 ms/point。可幫助縮短生產線上的節拍時間。

基本準確度增益±0.01 dB, 相位±0.06°

通過數字傅立葉計算方法與自校準功能，隨時進行高精度測試。與原來型號相比，增益/ 相位的準確度均有所提升。

* 準確度根據測試條件而不同。

動態量程140 dB

通過高分辨率A/D 轉換器和對每個測試頻率點分別進行量程優化的自動切換量程功能，確保較大的動態量程。對於測試過程中發生的變化，也能準確地測試出來。

隔離電壓600 V CAT Ⅱ ／ 300 V CAT Ⅲ

振盪器輸出（OSC）與2個分析輸入（CH1/ CH2）在機殼與端子間相互被隔離，額定絕緣為600V CATⅡ或300V CATⅢ。 高壓電需求增大的逆變器和PFC迴路等以電源迴路的環路/增益測試為首，其應用範圍越來越大。

自動切換量程

追隨輸入信號的電平，設定最佳量程後再進行測試。如檢測到超出量程的噪聲，則自動設定大的量程進行重新測試。測試數據成為未出現量程飽和的數據。為消除隨著量程變化而出現的測試值不連續，也可選擇固定量程。

自動高密度掃描

支持最高20,000 點的高密度測試，僅針對測試數據急劇變化的區間，自動提高頻率密度進行測試。

振幅壓縮功能

為防止被測試系統的飽和或破損，對振盪器的電平進行控制，以使被測試系統的振幅水平保持穩定。

積分功能

消除噪聲影響進行測試的數據積分功能。重複測試期間按循環數或時間進行設定。

自動積分功能

進行反复積分、直至噪聲引起的測試波動成分達到設定值以下的功能。

延時功能

為減輕由於頻率改變時的瞬態響應而引起的誤差，將時間延時至測試開始的功能。還追加了僅在掃描或開始當場測試時，將時間延時至測試開始的功能。

微分/ 積分運算功能

在測試數據的時間區域裡進行微分／二次微分／積分／二次積分的功能。對於來自加速度傳感器和激光多普勒振動計的信號，在掃描的同時進行運算，變換成位移／速度／加速度並顯示。

接口GPIB，USB，LAN，RS-232，VGA

標準配備GPIB, USB, LAN, RS-232接口。可構建自動測試系統。 另外，在背面配備了VGA連接器作為外部顯示器。關於其他輸出連接器等，請參閱右側的背面照片。

測試作業的效率UP!

　　

順序測試

對於設定存儲的內容，按照編號順序讀出並掃描測試的功能。對於一個掃描，可將頻率範圍最多分割成20 個部分，在各自的頻率範圍內分別按不同的振幅、積分設定等進行測試。濾波器和壓電元件等想要高密度地測試特定的頻率範圍時，多層陶瓷電容器（MLCC）、電感器和變壓器等具有偏壓依存性的零部件的測試等較為方便。

濾波器的通帶測試 僅必要頻率範圍的測試

MLCC的電容測試 在相同頻率範圍內，改變測試條件進行測試

標記搜索功能

除讓標記移動並讀取數值外，還可自動搜索符合設定條件的點。

群延時測試

可顯示用於濾波器等電子電路波形再現性評價的群延時（GD： Group Delay，用角頻率對輸入輸出間的相位進行微分）。

頻率變化時相位控制

在振盪器輸出信號的相位為0°時改變頻率。由此，從頻率掃描開始到結束期間的直流成分變為零，在電池的阻抗測試中，充放電狀態不發生變化。另外，在高通濾波器（HPF）的頻率特性測試中，不會由於直流而產生瞬態響應。

誤差校正

開路校正／短路校正／負載校正，端口延長功能，電位梯度消除功能，補償

• 開路校正／短路校正   開路時通過浮動導納、短路時通過殘餘阻抗校正測試誤差。（阻抗測試） • 負載校正   將已知數值的樣品作為標準阻抗來校正誤差。（阻抗測試） • 端口延長功能   在使用較長電纜時校正因傳輸延時引起的誤差。（阻抗測試） • 電位梯度消除功能   假定測試信號是由正弦波和鋸齒波（電位變動波形）構成的，分別測出正弦波與鋸齒波各自的大小與相位。消除由於電池等充放電造成的電位變化的影響。 （阻抗測試） • 補償   對於連接到外部的傳感器和電纜等測試系統的頻率特性 進行預先測試，校正測試系統的誤差成分。 （增益/相位測試） * 在各個（ ）內的測試中使用的校正功能。

圖表顯示

• SPLIT 顯示   可選擇在1 個畫面上顯示1 個圖表的“SINGLE”和上下顯示2 個圖表的“SPLIT”。 • 數據跡線   可覆蓋參考數據跡線（REF）和測試數據跡線（MEAS）。

• 相位UNWRAP 顯示   按0°、180°、360°不折回地連續顯示相位。還可顯示超過±360°的相位。